Spektroskopie

Für schnelle Schichtdickenmessungen Ultraschnelle Terahertz-Plattform

Das Terahertzsystem TeraFlash smart von Toptica kann bis zu 1600 Pulsspuren pro Sekunde aufnehmen und ermöglicht damit Echtzeitschichtdickenmessungen selbst an rasch bewegten Proben. Im Gegensatz zu konventionellen Terahertz-Zeitbereichspektrometern verwendet das Messgerät keine mechanische Verzögerungseinheit, sondern zwei synchronisierte Femtosekundenlaser mit einem elektronischen Delay (Electrically Controlled Optical Sampling, ECOPS).

Innerhalb einer Messzeit von 625 μs erreicht das System eine spektrale Bandbreite von 3 THz. Der Dynamikbereich der Pulsspur liegt bei mehr als 50 dB. Binnen einer Sekunde erhöht sich dieser Wert auf > 80 dB und die Bandbreite steigt auf > 4 THz an. Die Terahertzpfadlänge kann flexibel von 10 cm bis 180 cm eingestellt werden.

Aufgrund seiner hohen Messgeschwindigkeit eignet sich das Terahertzsystem für den Einsatz an schnell bewegten Proben, etwa an Förderbändern oder Extrusionslinien. Die fasergekoppelten Sende- und Empfangsantennen sind flexibel positionierbar und ermöglichen Messungen in Transmission oder Reflexion. Die 10 m langen Faserkabel erlauben eine räumliche Trennung der Steuereinheit vom Messkopf, der somit auch auf einen Roboterarm montiert werden kann.

Reflexionsmessungen lassen sich insbesondere für die Bestimmung von Schichtdicken nutzen, beispielsweise für die Untersuchung der Wandstärke von Kunststoffrohren oder für die Dicken von Polymerbeschichtungen oder ein- und mehrlagigen Lacken. Anwendungsgebiete sind beispielsweise die Kunststoffinspektion, industrielle Qualitätskontrolle, Materialforschung oder Hydratationsüberwachung.

von mg

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