Forschung & Entwicklung

Optisches Koordinatenmessgerät für die Produktionslinie

Ziel eines Forschungsprojekts ist ein optisches, berührungslos arbeitendes Koordinatenmessgerät, das komplex geformte Bauteile von einer Größe bis in den Meterbereich vollflächig in der Linie submikrometergenau vermisst.

Koordinatenmessgeräte sind ein wichtiges Instrument der Fertigungsmesstechnik und damit der Qualitätssicherung vor allem in Branchen wie Maschinenbau, Automobil- oder der Luft- und Raumfahrtindustrie. Stand der Technik sind taktile Koordinatenmessgeräte. Solche Geräte nutzen einen Messkopf, der mithilfe eines Verfahr- und Positionierungssystems die Bauteiloberfläche an verschiedenen Punkten antastet. Die dabei gemessenen räumlichen Koordinaten geben Aufschluss über wichtige geometrische Größen wie Längen, Ebenheiten oder Winkel. Messungen mit taktilen Koordinatenmessgeräten sind typischerweise sehr zeitintensiv, erfolgen in separaten Messräumen und sind daher nur stichprobenartig möglich.

Am 28. Juli fiel der Startschuss für das Projekt MIAME, in dem Fraunhofer-Institut für Physikalische Messtechnik IPM und das Fraunhofer-Institut für Angewandte Festkörperphysik IAF gemeinsam mit dem Lehrstuhl Optische Systeme der Universität Freiburg das weltweit erste optische Koordinatenmessgerät zur vollflächigen Vermessung großer Objekte im Metermaßstab entwickeln werden. Mit dem System sollen Bauteile in der Produktionslinie schnell und mit Genauigkeiten im Sub-Mikrometerbereich vermessen werden.

Ziel des Forschungsprojekts MIAME, das über drei Jahre läuft, ist ein optisches, berührungslos arbeitendes Koordinatenmessgerät, das komplex geformte Bauteile von einer Größe bis in den Meterbereich vollflächig in der Linie sub-mikrometergenau vermisst. Kernstück der Entwicklung ist ein digital-holographischer Sensor mit einer neuartigen Laserlichtquelle auf Basis von Flüstergalerieresonatoren. Die Lichtquelle soll schnell und exakt zwischen verschiedenen Wellenlängen schaltbar sein, was in Kombination mit digitaler Mehrwellenlängenholografie erstmals interferometrische Messungen mit bis zu einem Meter Eindeutigkeit ermöglicht. Integriert in Mehrachs-Handling-Systeme soll das Sensorsystem bis zu 500 Mio. 3-D-Punkte pro Sekunde erfassen – mit einer Einzelpunktgenauigkeit von besser als 0,1 µm und einem Eindeutigkeitsbereich von bis zu 1000 mm.

von mn

www.ipm.fraunhofer.de

www.iaf.fraunhofer.de

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