Technologie & Applikation

Messtechnik Optimales Deflektometriesystem mit Hilfe einer Simulation

Bei der Entwicklung und Auslegung eines optischen Messsystems ist die Vorhersage der tatsächlich erreichbaren Messauflösung, bzw. -genauigkeit schwierig, weil eine Vielzahl von Parametern eine Rolle spielt. Mittels Simulation können  Messsysteme auf Basis der Deflektometrie schon in der Designphase hinsichtlich der erreichbaren Messgenauigkeit beurteilt werden. Eingangsgrößen sind die Parameter von Kamera, Referenzmonitor und dem zu messenden Objekt, sowie der Orientierung zueinander.

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