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Mikroskopie: Proben und Objektive nanometergenau positionieren

In der Mikroskopie ist die exakte Positionierung von Proben und Objektiven die Voraussetzung um zuverlässig interpretierbare Bilddaten zu erhalten. Von Routinemikroskopie über höchstauflösende Mikroskopie bis zu Partikelstrahl- und Rasterkraftmikroskopie: überall spielt die Positionierung von Proben – statisch wie dynamisch – eine entscheidende Rolle für die Qualität von Mikroskopbildern und deren Interpretation. Neben der Positionierung der Probe mit bis zu sechs Freiheitsgraden ist dafür häufig auch eine Bewegung des Objektivs in Z-Richtung nötig.

Für diese Aufgaben hält Physik Instrumente (PI) ein umfangreiches Produktportfolio bereit, das auf Basis verschiedener Antriebstechnologien, wie Piezo- oder Motorantrieben, eine präzise Positionierung bis in den Nanometerbereich mit hoher Wiederholgenauigkeit ermöglicht. Eine übersichtliche Darstellung des Angebots zeigt PI jetzt in der neuen Broschüre ‚Nanopositioning for Microscopy‘ anhand zahlreicher Mikroskopietechniken. Ergänzt wird diese Übersicht durch neu gestaltete Produktfinder für die Probenpositionierung und die Z-Nanopositionierung und neue Konfigurationsdiagramme für PIFOC Objektivscanner, inklusive Informationen zu passenden Controllern. Die Digitalversion der Broschüre in Form einer pdf-Datei ermöglicht zudem einen direkten Zugriff auf die entsprechenden PI-Webseiten mit detaillierten Produktdaten.

Weitere Informationen und ein Download der Broschüre finden sich im PI-Blog unter: Präzise Positionierung von Proben und Objektiven

www.physikinstrumente.de

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