Produktberichte

Mikroskopie Kompaktsystem für die Oberflächenanalyse

Das neue Weitfeld-Konfokalmikroskop Smartproof 5 wurde für industrielle Anwendungen in Qualitätssicherungs- und Qualitätskontrollabteilungen, Produktionsumgebungen und Forschungs- und Entwicklungslabore entwickelt, wie z. B. die Charakterisierung von Rauheit in 2D (Profil) und 3D (Fläche) und Topographie.

Das System bietet mit  2048 × 2048 Pixeln eine hohe Auflösung. Die Linsen C Epiplan-Apochromat mit einer hohen numerischen Apertur bieten nicht nur im sichtbaren Bereich, sondern auch bei der für die Aufnahme von Weitfeld-Konfokalbildern verwendeten Wellenlänge von 405 nm eine gute Leistung.

Durch das integrierte und robuste Design kann es ohne zusätzliche Anti-Vibrationsausrüstung in unterschiedlichen Arbeitsumgebungen installiert werden. Optik, Elektronik und Kamera sind komplett in das Mikroskop eingebettet. Es gewährleistet eine nutzerunabhängige Datenaufnahme als Grundlage präziser und wiederholbarer Resultate. Erlernbare Inspektionsaufgaben und die übersichtliche grafische Benutzeroberfläche (GUI) erleichtern wiederkehrende Aufgaben.

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