Technical Articles

Metrology Ellipsometry – a powerful way to determine optical parameters

A recently developed laser ellipsometer now enables the determination of optical constants like layer thickness, refractive index or absorption, especially for a number of mid-infrared photonics materials that were so far eluding feasible and reliable measurements.

Exklusiv für registrierte Nutzer
Dieser Artikel ist für registrierte Nutzer im Volltext lesbar.
Login

* Pflichtfelder bitte ausfüllen

Sie sind noch kein Abonnent?
So können Sie photonik beziehen.

Sie sind bereits Abonnent?
Dann brauchen Sie sich nur hier zu registrieren und haben sofort Zugriff auf alle exklusiven Inhalte.

Firmeninformationen
© photonik.de 2019 - Alle Rechte vorbehalten