Messtechnik

Schnell und winkelabhängig Charakterisierung von NIR-Emittern

Polytec stellt zwei neue NIR-Emitter-Charakterisierungssysteme des Herstellers Eldim vor. Sie eignen sich sowohl für den F&E-Bereich als auch für die Qualitätskontrolle in der Produktion. Beide Geräte messen berührungslos. Sie erzeugen mit einer einzigen Messung ein vollständiges Abbild innerhalb des Betrachtungswinkels von ±70° bzw. ±40° bei einer Winkelauflösung von 0,05°. Die Messdauer zur Charakterisierung des Fernfeldes liegt unter einer halben Sekunde. Damit unterscheiden sie sich erheblich von herkömmlichen Methoden, die für vergleichbare Messungen mit einem Goniometer mindestens mehrere Stunden benötigen.

Das VCProbe-NIR-STG dient der präzisen Analyse der Eigenschaften von IRED-Punktprojektoren und Flächenstrahlern, wie sie in der 3-D-Bildgebung mittels Stereoskopie oder strukturiertem Licht eingesetzt werden. Das System misst bei einer Wellenlänge von 940 nm un einem Arbeitsabstand von 4 mm.

Das OFScope-NIR-DSD wurde speziell für Lidar- und VCSEL-Komponenten entwickelt und misst bei Wellenlängen von 850, 905 und 940 nm und einem Arbeitsabstand von 30 mm.

Die genaue Charakterisierung von NIR-Quellen wie Oberflächenemittern wird im Lidar-Bereich zur Sensoranalyse bei autonomen Fahrzeugen oder in der 3-D-Fernerkundung eingesetzt. Aber auch die NIR-basierte Gesichtserkennung, zum Beispiel in Smartphones oder sicherheitsrelevanten Banking-Anwendungen, kann durch diese Technologie perfektioniert werden.

Polytec bietet Anwendungsberatung, Testmessungen, Vertrieb und Service für alle Eldim-Systeme.

von mn

www.polytec.com

Firmeninformationen
© photonik.de 2019 - Alle Rechte vorbehalten