Nanotechnik
Chemical Contrast Imaging: Die Abbildung chemischer Kontraste mit dem Rasterkraftmikroskop
17.04.2008 - Nanotechnik 2/2008
Rasterkraftmikroskope haben sich von Instrumenten der Grundlagenforschung zu industrietauglichen Oberflächen-Analysegeräten entwickelt. Bei heterogenen Proben wird jedoch häufig neben der Topographie auch eine Kartierung loka-ler chemischer Oberflächeneigenschaften benötigt. Dies gelingt mit einem unlängst patentierten Verfahren, das mittlerwei-le kommerziell verfügbar ist [1] und viele neue Anwendungsgebiete eröffnet.
Photonik 2/2008
Company: Andreas Pfrang, Matthias Müller, Thomas Schimmel, Universität Karlsruhe (AP & CFN) und Forschungszentrum Karlsruhe (INT)
Supplement
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